高壓絕緣子的試驗(yàn)項(xiàng)目 (1)測(cè)量電壓分布。一般1～3年進(jìn)行一次，絕緣子串在正常和有缺陷情況下，電壓分布不同，有缺陷的絕緣子較正常的電壓要小，其電壓轉(zhuǎn)移到絕緣正常的元件上，可以通過(guò)測(cè)量電壓分布確定其絕緣性能。 (2)絕緣電阻試驗(yàn)。懸式絕緣子每1～3年一次，用5000V兆歐表測(cè)每片絕緣子其阻值不小于300MΩ。 (3)高頻耐壓試驗(yàn)每1～3年一次。